El microscopio electrónico JEOL© JSM-IT500 tiene acoplado un detector Bruker© XFlash 6|30 y una fuente de rayos X Bruker© Xtrace, combinación con la cual pueden realizarse microanálisis químicos con mayor rapidez que otros microscopios de un modelo inferior, lo cual trae como consecuencia el análisis de un mayor número de muestras por hora de servicio.

Servicios:

• Caracterización morfológica y/o microestructural de materiales.
• Microanálisis químico por dispersión de energía (EDS)
• Microanálisis químico por fluorescencia de rayos X (XRF)

Áreas de aplicación:

Las áreas de aplicación son amplias y muy variadas, en las que se incluyen:

• Ciencias de Materiales
• Control de Calidad
• Nanotecnología
• Electrónica y semiconductores
• Industria Extractiva
• Análisis de falla y optimización de procesos
• Análisis Forenses