Laboratorio de Universitario de Microscopía Electrónica (LUME)
El LUME tiene como objetivo científico la caracterización estructural a nivel micrométrico y nanométrico de los materiales, así como realizar estudios de análisis estructural por difracción de electrones, análisis químico por fluorescencia de rayos X, análisis de morfología y microestructura por Microscopía Electrónica.
Aplicaciones:
Industria metalúrgica
• Estudio de los metales y minerales y el estudio de su estructura a nivel molecular.
• Caracterización microestructural de materiales.
• Identificación, análisis de fases cristalinas y transiciones de fases.
Geología
• Composición de superficies y tamaño de grano.
• Valoración del deterioro de materiales, determinación del grado de cristalinidad y
presencia de defectos.
• Identificación del tipo de degradación: fatiga, corrosión, fragilización, etc.
Odontología
• Estudiar la direccionalidad de las varillas del esmalte dental.
• Analizar las alteraciones que producen los ácidos producidos por restos alimenticios
en las superficies vestibulares de los dientes.
Industria textil
• Observación de detalles superficiales de fibras.
• Modificaciones en las formas de las fibras o en detalles superficiales.
• Fractografía de fibras rotas por diferentes causas.
• Dañado de fibras. Construcción de hilos y tejidos.
El LUME abarca las principales técnicas de microscopia electrónica, desde microscopia electrónica de barrido (SEM) hasta microscopia electrónica de transmisión y barrido (STEM) para la caracterización de la morfología y estructura de materiales a escala micrométrica y nanométrica. Además, cuenta con equipo para la preparación de muestras para su análisis por las diferentes técnicas de microscopia electrónica.
Servicios:
Microscopio Electrónico de Transmisión (TEM) JEOL JEM-ARM200F.
Microscopio analítico con resolución atómica, equipado con un Corrector de Aberración Esférica (Cs) en modo STEM en su configuración estándar, lo que permite obtener una resolución de 82 pm en modo STEM. En modo HAADF permite diferenciar la química elemental a través de contrastes. Además, cuenta con un detector EDS para medir química elemental de manera Semicuantitativa.
El equipo permite:
• Observar la estructura atómica de los materiales
• Medir mediante técnicas de campo claro o campo oscuro, la distribución de los átomos.
• Hacer difracción de área selecta y nano difracción.
Especificaciones de las muestras:
El empleo de este modo permite visualizar sitios de columnas atómicas de elementos ligeros en muestras cristalinas en materiales que sean menores a un espesor de 100 nanómetros y que no contengan algún solvente ni humedades. Simultáneamente, es posible obtener imágenes en modo STEM-HAADF, debido a que la distancia entre el detector HAADF y BF está optimizado, permitiendo que la posición de los sitios de las columnas atómicas pueda ser estimadas directamente.
Microscopio Electrónico de Barrido (SEM) JEOL JSM-7600F.
Microscopio equipado con cañón de emisión de campo tipo Schottky, permite obtener imágenes con alta resolución espacial y optimizar su funcionalidad analítica. Cuenta con un Lente objetiva Semi-In Lens que permite obtener ultra alta resolución.
Además, el SEM está equipado con 4 detectores para la obtención de imágenes. Dos detectores de electrones secundarios, uno colocado fuera de la lente objetiva (LEI) y otro detector tipo In Lens (SEI). Dos detectores de electrones retrodispersados, uno colocado fuera de la lente objetiva (LABE-Low Angle Backscattered Electrons) y otro colocado dentro de la columna (RIBE).
El equipo permite:
• Realizar detección de Impurezas
• Determinar frontera de grano
• Observar la distribución del material (electrones secundarios)
• Observar la distribución de los elementos en la superficie (electrones retrodispersados)
Especificaciones de las muestras:
Para realizar análisis químico por medio de la técnica de espectroscopía por barrido se requiere que las muestras no contengan humedad ni solventes y el tamaño puede ser relativamente grande no mayor a 15 cm.
Haz de Iones Focalizado (FIB) Jeol JEM-9320FIB.
Unidad de micro maquinado con Haz de Iones focalizado para preparación de muestras para microscopía electrónica de transmisión (TEM) y microscopía electrónica de barrido (SEM). El FIB está equipado con una fuente de Iones de Galio (Ga) y puede funcionar en un intervalo de voltajes de aceleración de 5 KV hasta 30 kV. Por medio de este dispositivo es posible realizar depósitos de películas delgadas de Pt.
El equipo permite:
• Preparar muestras de transmisión.
• Preparar para muestras de Barrido.
• Estudiar superficies, recuperando electrones secundarios.
• Micro y nano fabricación.
Especificaciones de las muestras:
Se requiere que las muestras no contengan humedad ni solventes y el tamaño puede ser relativamente grande no mayor a 15 cm.
LABORATORIO DE PREPARACIÓN DE MUESTRAS (LabPreM)
Equipos:
• Ultramicrotomo – OM U2 Reichert Austria
• Desbastador iónico – Ion Polishing System Gatan 691
• Electropulido – SBT 550D
• Sputtering – JFC-1100 JEOL
• Evaporadora de Carbono – Cressington 108C
