Analizar las superficies de los materiales, cualitativa y cuantitativamente, para determinar la composición elemental y determinar el estado químico. El estudio se puede hacer en una región específica, un punto, una línea o un área, perfil de profundidad y de resolución angular.

Aplicaciones:
• Investigación y Desarrollo (Research and development, R&D).
Investigación en Ciencia Básica, Control de calidad en la fabricación, Problemas ambientales, Investigaciones Forenses, falsificaciones.
• Metalurgia e Industria minera.
Óxidos, difusión elemental en matrices metálicas, impurezas, contaminantes, estudios de fracturas intergranulares y transgranulares, lixiviados, toxicidad, suelos contaminados o remediados.
• Polímeros, papel y embalajes.
Identificación de grupos funcionales y estado químico, copolímeros, degradación, impurezas, interacción química de polímero compuestos, funcionalización, estudio de tratamientos en propiedades físicas y químicas, entintado, interfases y multicapas, reciclaje.
• Catálisis y medio ambiente.
Estado químico del catalizador, pureza, vida media, capacidad, control de calidad, contaminación ambiental, de objetos o utensilios.
• Pegamentos y adhesión.
Superficies antes del adherente, interfases, procesos, control de calidad, evaluación de daño en adhesión.

Análisis superficial de materiales in-situ de espectroscopías de alta resolución. Espectroscopia de Fotoelectrones por Rayos X y Espectroscopia de fotoelectrones por rayos ultravioleta (UPS).

Servicios:
• Análisis elemental y químico de la superficie amorfa o cristalina.
• Entorno químico de los átomos: estado de oxidación y coordinación.
• Distribución de átomos y estados de oxidación en función del espesor del material.
• Determinación cualitativa de espesores de películas, multicapas e interfases.
• Análisis cuantitativo elemental y químico.
• Propiedades electrónicas como banda de valencia y nivel de Fermi.
• Análisis de procesos de difusión segregación sólida.
• Análisis químico de productos de desgaste, erosión y corrosión.
• Pasivación natural o provocada.
• Vacancias y efecto químico de átomos de dopantes.
• Límites de fases en superficies o puntos cuánticos.
• Comportamiento del electrón en su órbita cambiando su entorno electrónico.
• Parámetros Auger.
• Microelectrónica.

Análisis de películas, espesor, difusión por uso, perfil de calidad, distribución de especies dentro de la película, mapas químicos de superficie, estudio de dopantes, fallas en impresos, contaminantes.
• Corrosión y propiedades tribológicas.
Interacciones de entre superficies metálicas, calidad, pureza, protección de recubrimientos, en desgaste y corrosión, identificación de películas pasivadas, crecimiento de óxidos, daño, perfiles en materiales corroídos y productos de corrosión.
• Fibras e Industria textil.

Imágenes y estado químico de fibras de celulosa procesada, modificación, tratamientos textiles, efecto químico por colorante, fibras sintéticas o naturales, cohesión forzada de fibras, daño por contaminantes o medio ambiente.

Equipo:
XPS/UPS/ SXI-SEM, tipo Scanning XPS Microprobe, modelo PHI 5000 VersaProbe II. Resolución espacial (mínimo de 10 micras) y haz monocromático de aluminio.

Especificaciones de las muestras:
Las muestras deben ser sólidas o polvos manipulables con dimensiones mínimas de 100 μm y máximo 1×1 cm y altura de 0.5 cm. Que no se degraden a 80 °C (de presión de vapor baja) y que estén secas (si son higroscópicas). Límite de detección de XPS 100 ppm.