Difracción de rayos X en polvos (XRD)

El laboratorio cuenta con un difractómetro Bruker©D8 Advance Eco con el que es posible implementar de manera eficiente la técnica de difracción de rayos X, la cual permite el análisis estructural de materiales cristalinos, incluido el arreglo atómico, el tamaño de los cristales, su orientación preferencial, etc. 

Servicios

• Preparación de muestras de polvo para análisis por XRD de materiales cristalinos.
• Obtención del patrón de difracción de polvos.
• Identificación y cuantificación de fases cristalinas presentes
• Medición del tamaño promedio de cristalitas.
• Determinación de los parámetros de red.

Aplicaciones

• Cristalografía
• Mineralogía
• Metalurgia
• Cerámica
• Farmacia
• Geociencias
• Ciencia de Materiales
• Diversas áreas de Química

Análisis de materiales mediante difracción de rayos X, identificación de fases cristalinas y espectrometría, análisis elemental cualitativo a partir del flúor.

Algunas aplicaciones:

Farmacéutica
• Determinación de la estructura cristalina, proporcionando la información clave para distinguir polimorfos.
• Se utiliza como herramienta en el campo farmacéutico para el control de calidad de medicamentos, permitiendo identificar el principio activo y los excipientes.
• Es de gran utilidad para poder detectar la presencia de impurezas en fármacos.

Minería y Geología
• Identificación y determinación del grado de orden estructural de sustancias cristalinas y análisis cuantitativo de las mismas.
• Determinación de textura cristalina y del tamaño de cristalitos.
• Caracterización de fases en mezclas criptocristalinas (suelos, lateritas, arenas, concentrados de batea, escombreras de minas, material extraído de sondeos, etc.).

Química y catálisis
• Identificación de fases cristalinas.
• Determinación de la estructura cristalina y tamaño de cristalito.

Servicios
• Obtención e interpretación de los difractogramas de polvo.
• Identificación de fases (matching con bases de datos).
• Determinación de distancia interplanar.
• Cálculo de ancho a la altura media (FWHM) para determinación de tamaño promedio del cristalito.
• Determinación del porcentaje de área cristalina vs amorfo para materiales con mezcla de estas fases mediciones para análisis de refinamiento.
• Identificación de estructuras mediante la base de datos PDF-2 2004, Software Difracc-Plus 2005, MATCH 1.0, PDXL2.
Equipo
• Generador Nicolet con tubo de cobre para uso con cámaras.
• Cámara Weissenberg para monocristales.
• Cámara de precision para monocristales.
• Cámara Laue para monocristales.
• Difractómetro de polvos Siemens D500 con software Diffrac –AT Siemens, versión 1.
• Difractómetro Siemens D500 con aditamento grazing angle para películas delgadas.
• Cámara de temperatura.
• Software: Diffrac-Plus # 1, Diffrac-ATV3.2.
• Difractómetro de polvos Bruker axs D8 Advance con software Diffrac Plus Release 2000.
• Espectrómetro secuencial Siemens SRS303 con software Spectra-AT, versión 2.1.